鍍層厚度檢測(cè)用那些方法合適你的產(chǎn)品檢測(cè)

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• 鍍層厚度檢測(cè)

電鍍層的厚度及其均勻性是鍍層質(zhì)量的重要標(biāo)志，它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。電鍍層的厚度測(cè)量方法分破壞性測(cè)量和非破壞性測(cè)量?jī)纱箢�。屬于破壞性測(cè)量的方法有計(jì)時(shí)液流法，點(diǎn)滴測(cè)厚法，庫(kù)侖法，金相法等，屬于非破壞性的測(cè)量方法有磁性法，渦流法，β射線反向散射法，X-ray法，掃描電鏡法等。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6463-2005金屬和其他無(wú)機(jī)覆蓋層厚度測(cè)量方法評(píng)述

GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量 顯微鏡法

GB/T 4955-2005金屬覆蓋層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法

GB/T 4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

GB/T 4957-2003非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 渦流法

GB/T 13744-1992磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測(cè)量

GB/T 16921-2005金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜方法

GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法

JB/T 7503-1994金屬覆蓋層橫截面厚度掃描電鏡測(cè)量方法

ASTM B659-1990(2008)e1金屬及無(wú)機(jī)鍍層厚度測(cè)量指南

ASTM B487-1985(2007) 金屬和氧化膜厚度測(cè)定 斷面顯微鏡檢驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B748-1990(2010) 通過(guò)用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面來(lái)測(cè)量金屬涂層厚度的試驗(yàn)方法

ASTM B764-2004(2009) 多層鎳鍍層中單層的同步厚度和電化學(xué)電勢(shì)測(cè)定方法(STEP試驗(yàn))

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                                                   第三方檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)平臺(tái)

服務(wù)領(lǐng)域:

物理化學(xué)，金屬材料，無(wú)機(jī)非金屬材料，聚合物材料，等性能及微觀表征

服務(wù)對(duì)象:各大高校，科研院所，中小型企業(yè)

擁有設(shè)備:力熱電光聲等相關(guān)設(shè)備，各類光譜分析儀器，TEM， SEM， FIB ，EBSD等，微觀表征設(shè)備

熱門(mén)檢測(cè)：食品安全檢測(cè)   / 水質(zhì)檢測(cè)中心   /  油品質(zhì)量檢測(cè)  / 金屬材料檢測(cè)

質(zhì)檢認(rèn)證平臺(tái)，網(wǎng)址：m.remfly.com.cn 聯(lián)系方式：13211192174 鐘先生，發(fā)布日期：2020年11月12號(hào)

檢測(cè)流程

1、電話咨詢

2、郵寄樣品或上門(mén)取樣。

3、工程師報(bào)價(jià)

4、支付檢測(cè)費(fèi)用,開(kāi)展實(shí)驗(yàn)。

5、完成實(shí)驗(yàn),具檢測(cè)報(bào)告。