佛山市粉末顆粒大小及分布測(cè)試，業(yè)務(wù)指南/匯總-聯(lián)系我們
粉末顆粒大小及分布是材料科學(xué)、化工、制藥等領(lǐng)域的重要參數(shù)，直接影響產(chǎn)品的流動(dòng)性、溶解性、壓縮性等性能。以下是常用的測(cè)試方法及技術(shù)要點(diǎn)：
1. 常用測(cè)試方法
# (1) 激光衍射法（Laser Diffraction）
原理：通過(guò)顆粒對(duì)激光的散射角度和強(qiáng)度反推粒徑分布（基于Mie散射或Fraunhofer衍射理論）。
適用范圍：0.1–3000 μm，適合干粉或懸浮液。
優(yōu)點(diǎn)：快速、重復(fù)性好、測(cè)量范圍寬。
注意事項(xiàng)：
需分散均勻（避免團(tuán)聚），可能需超聲或分散劑。
折射率參數(shù)設(shè)置影響結(jié)果。
# (2) 動(dòng)態(tài)光散射（DLS，納米顆粒分析）
原理：測(cè)量顆粒布朗運(yùn)動(dòng)引起的散射光波動(dòng)，推算粒徑（Stokes Einstein方程）。
適用范圍：1 nm–1 μm（亞微米及納米級(jí)）。
優(yōu)點(diǎn)：適合膠體、乳液等液相體系。
注意事項(xiàng)：
樣品需高度稀釋?zhuān)苊舛喾稚Ⅲw系干擾。
不適用于非球形顆粒或?qū)挿植紭悠贰?br/># (3) 篩分法（Sieving）
原理：通過(guò)不同孔徑的篩網(wǎng)分離顆粒，稱(chēng)重計(jì)算分布。
適用范圍：20 μm–3 mm（干篩或濕篩）。
優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、成本低，適合大顆粒。
注意事項(xiàng)：
易受顆粒形狀和篩分時(shí)間影響。
小顆粒（<50 μm）易堵塞篩網(wǎng)。
# (4) 電子顯微鏡（SEM/TEM）
原理：直接成像觀察顆粒形貌和尺寸。
適用范圍：納米至微米級(jí)，高分辨率。
優(yōu)點(diǎn)：可獲取形貌信息（如球形度、團(tuán)聚狀態(tài)）。
注意事項(xiàng)：
樣品制備復(fù)雜（如鍍膜），統(tǒng)計(jì)量需足夠（通常分析數(shù)百顆粒）。
需配合圖像分析軟件（如ImageJ）。
# (5) 沉降法（Sedimentation）
原理：根據(jù)Stokes定律，通過(guò)顆粒沉降速度計(jì)算粒徑。
適用范圍：0.1–300 μm（重力或離心沉降）。
優(yōu)點(diǎn)：適合高濃度或密度差異大的樣品。
注意事項(xiàng)：
需已知顆粒密度，易受對(duì)流干擾。
# (6) 動(dòng)態(tài)圖像分析（Dynamic Image Analysis）
原理：高速相機(jī)捕捉運(yùn)動(dòng)中的顆粒圖像，分析粒徑和形狀。
適用范圍：1 μm–數(shù)毫米（如干粉或顆粒流）。
優(yōu)點(diǎn)：同時(shí)獲得粒徑和形狀數(shù)據(jù)（如長(zhǎng)徑比）。
注意事項(xiàng)：需避免顆粒重疊。
2. 關(guān)鍵參數(shù)
D10/D50/D90：累積分布中10%、50%、90%對(duì)應(yīng)的粒徑，反映分布寬度。
Span值：衡量分布均勻性，Span = (D90 D10)/D50。
比表面積：通過(guò)BET法間接反映顆粒細(xì)度。
3. 方法選擇建議
納米顆粒：優(yōu)先選DLS或TEM。
1–100 μm：激光衍射法（通用性強(qiáng)）。
大顆粒（>100 μm）：篩分法或動(dòng)態(tài)圖像分析。
形貌分析：結(jié)合SEM/TEM。
4. 樣品準(zhǔn)備要點(diǎn)
分散性：使用分散劑（如吐溫80）或超聲處理。
代表性：取樣需均勻，避免偏析。
濃度控制：激光衍射/DLS需優(yōu)化遮光率（通常5–15%）。
5. 標(biāo)準(zhǔn)參考
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 13320（激光衍射）
ISO 22412（DLS）
ASTM B822（金屬粉末測(cè)試）
根據(jù)具體需求（如精度、成本、樣品性質(zhì)）選擇合適方法，必要時(shí)可交叉驗(yàn)證（如激光衍射+SEM）。
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